CMI500 台带温度补偿功能的测量孔内镀铜厚度的测厚仪CMI511是手持的电池供电的测厚仪。它能于侵蚀工序前、后,测量孔内镀层厚度。的设计使CMI500能够胜任对双层或多层电路板的测量,甚至可以穿透... ...
应用 X射线荧光分析仪X-Strata920是一款率、快速的镀层厚度测量及材料分析设备。 行业 X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分... ...
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多... ...
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态的信/躁比,从而降低检测下限。分辨率高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素... ...
RoHS六项基础检测 用户可方便对RoHS控制的六类物质进行检测与控制。 pb、CD、Hg、六价Cr(测试总Cr)PBB PBDE(测试总Br)。 成熟的经典分析方法 凭借“七·五”“九·五”科技... ...
仪器简介 X-MET5000的主要优势就在于其轻元素处理(LET)模式,此模式可允许对属进行快速、准确的分析——即使样品中存在铝和硅等轻元素,仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于只使用“... ...
手持式X荧光光谱仪(RoHS有害元素筛选)X-MET5000 主要特点: 能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高、高性的鉴定。拥有牛津仪器 PentaFET?技术的仪器,了用户对感兴趣的... ...